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Séminar announcement - 10 July 2015

Gianluigi Botton, Director of the Canadian Center for Electron Microscopy (CCEM) at McMaster University Canada has given a seminar on EELS spectroscopy and advanced TEM and STEM: From Catalysis and Plasmonics: Probing the Structure of Nanoscale Materials with the TEM and EELS (see enclosed PDF announcement).

Date : Friday 10 July, 10:00 am, P.G. De Gennes amphitheater, first floor, Blaise Pascal Building, INSA de Lyon.
 

Charte d'utilisation des instruments du CLYM au plan sanitaire

Dans l'intérêt collectif du bon fonctionnement de la Fédération, tout utilisateur des instruments du CLYM s'engage à ne pas manipuler de produits pathogènes, explosifs, radioactifs ou toxiques dans les salles des microscopes ; toute préparation d'échantillon (dilution, dépôt, concassage, découpe, collage,...) doit être faite en dehors de ces salles (pour le site INSA, la salle de préparation du sous-sol du bâtiment Blaise Pascal est accessible à cet effet).

Microscopie à balayage double faisceaux (FIB / SEM) : un outil analytique

Le CLYM propose une formation sur l'outil "FIB" en Sciences des Matériaux.
Les objectifs de cette formation dispensée au travers de cours et travaux pratiques sur un FIB récent (ZEISS NVision40) sur 5 jours pour un maximum de 6 stagiaires sont :
- Acquérir les bases théoriques de la microscopie électronique à balayage double faisceaux
- Appréhender de manière pratique l'acquisition et le traitement des données de type 3D
- Avoir un aperçu de la préparation des lames de TEM
Dans ce contexte, les notions abordées dont les suivantes :

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