Ly-EtTEM (eTEM TITAN 80-300 kV, FEI)CLYM Instruments

Formation CNRS FIB / SEM (mars 2018)

Une formation CNRS sur la "Microscopie à balayage double faisceaux (FIB / SEM)" se tiendra du 19 au 23 mars 2018 au CLyM. C'est une formation "CNRS formation entreprises" ouverte aux industrielles et au milieu académique. Elle est organisée conjointement par le CLyM et le laboratoire MATEIS de l'INSA de Lyon.

En PJ vous trouverez la plaquette de la formation.

 

FIB Nanostructures

Dans le cadre de la rédaction d'un ouvrage intitulé "FIB NANOSTRUCTURES" dressant un état de l'art exhaustif des différentes applications du FIB pour la réalisation de nanostructures, une équipe de l'Institut Lumière Matière (partenaire du CLYM) a été sollicité pour la rédaction d'un chapitre s'intitulant "FIB Design for Nanofluidic Application". Dans ce contexte, les auteurs ont pu démontrer que l'utilisation du système dual beam NVision 40 présent au CLYM donnait accès à un tout nouveau domaine d'application : la NanoFluidique.

 

Imaging with Microscopes

During the last European Microscopy Conference EMC2016 held in Lyon, a micrograph exhibition was proposed covering different techniques in microscopy, from Confocal Optical Microscopy to Holography and High Resolution in TEM, through SEM and X-ray Tomography, owing to series of images kindly provided by various authors throughout the world (short presentation in the PDF file below).

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