Microscopie à balayage double faisceaux (FIB / SEM) : un outil analytique

Le CLYM propose une formation sur l'outil "FIB" en Sciences des Matériaux.
Les objectifs de cette formation dispensée au travers de cours et travaux pratiques sur un FIB récent (ZEISS NVision40) sur 5 jours pour un maximum de 6 stagiaires sont :
- Acquérir les bases théoriques de la microscopie électronique à balayage double faisceaux
- Appréhender de manière pratique l'acquisition et le traitement des données de type 3D
- Avoir un aperçu de la préparation des lames de TEM
Dans ce contexte, les notions abordées dont les suivantes :
- Eucentricité, point de coïncidence, etc...
- Dépôts (électrons, ions)
- FIB-3D
- Prépa-TEM
- Imagerie ionique
- EBSD-3D

Renseignements complémentaires et inscription : voir l'annonce complète sur le site https://cnrsformation.cnrs.fr.