MET JEOL 2010F

Equipe Microscope TEM JEOL 2010F

Annie Malchère (MATEIS), Lucian Roiban (2010F), Sophie Cazottes (MATEIS).

 

Performances du Microscope 200kV FEG (émission Shottky)

Le microscope JEOL 2010F du CLYM est équipé d'une pièce polaire UHR de résolution 0.195 nm (1ère coupure de la fonction de transfert de contraste à la défocalisation optimale de Scherzer; Cs = 0.5 mm). La taille de sonde minimale est de l'ordre de 0.3 nm (0.5 nm en conditions usuelles). Un dispositif 'STEM' permet l'acquisition d'images en Champ Sombre Annulaire à Grand Angle "HAADF" (High Angle Annular Dark Field).
 
Image METHR "de Scherzer" de la phase hexagonale beta-Si3N4 vue selon [0001]; les colonnes atomiques sont noires. Polycristal Si3N4 dopé à l'oxyde d'yttrium : joint de grain et détail montrant la résolution du sous-réseau de silicium en HAADF.

 

Accessoires analytiques

Système EDX XMAX 80 et logiciel INCA (prêt d'OXFORD INSTRUMENTS); DigiPEELS GATAN (résolution en énergie optimale 0.65 eV, 1-1.2 eV en conditions usuelles).
 
Mesure de la ségrégation intergranulaire dans des céramiques optiques YAG dopées au Ce3+ : analyse en 'line-scan', taille de sonde 2nm (d'après [W. Zhao et al., Jap. J. of Appl. Phys., 49, (2010), 022602]).

 

Porte-objets spécifiques

Porte-objets simple-tilt, double-tilt et froid (N2) JEOL, analytique Be double-tilt GATAN, nano-indentation NANOFACTORY, embout "maison" pour tomographie simple-tilt +/-85°.
 

Nano-compression d'une particule nanométrique de type fullérène MoS2 (porte-objet de nano-indentation) la barre représente 20 nm ; d'après [I. LAHOUIJ et al., Tribo Letters, 45 131 (2012)].